日本大塚电子Otsuka纳米粒子径测试仪nanoSAQLA

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日本大塚电子Otsuka纳米粒子径测试仪nanoSAQLA

日本大塚电子Otsuka纳米粒子径测试仪nanoSAQLA

产品说明:

nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法(DLS法)测量粒径(粒径0.6nm~10um)的装置。

支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统,

实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。 

另外,这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品。

产品特点:

1台便可实再5个样品的连续测量

实现了在没有自动取样器的情况下难以连续测量的多个样品

可以改变每个样品的条件进行测量

可以对应从稀薄到浓厚的样品

标准测量时间1分的高度测量

自动调整从浓厚系到稀薄系样品的最佳测量位置,实现约1分钟的高速测量

配备简单测量功能(点击一键即可开始测量)

没有任何复杂的操作,简单易懂的软件

因为每个样品槽都是独立的,没有接触污染的风险。

搭载温度梯度功能。

测量范围:

粒径0.6nm~10μm

浓度范围 0.00001~40%

温度范围0~90℃*

产品规格:

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