产品说明：
这是一种紧凑且低成本的涂层厚度计，能够实现高精度光学干涉膜厚度测量，作简便。
采用了将必要设备存放于主体的一体化机箱，以实现稳定的数据采集。
虽然成本低，但也可以通过获得绝对反射率来分析光学常数。
产品特点：
小巧、低成本且作简便的薄膜厚度测量
通过选择光谱仪和光源，可选择胶片厚度范围
条件设置和作测量简便。 任何人都能轻松测量
配备实时监控和仿真功能
其测量点直径为φ1.2毫米，可以测量
从3nm~35μm到厚薄膜的广泛范围。
测量项目：
绝对反射率测量
薄膜厚度分析（10层）
光学常数分析（n：折射率，k：衰减计数）。
测量对象：
功能性薄膜、塑料
透明导电薄膜（ITO、银纳米线）、相位对比薄膜、偏振薄膜、增强现实薄膜、
PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合剂、粘合剂、保护薄膜、硬涂层、防指纹剂等。
半导体
化合物半导体、硅、氧化膜、氮化物薄膜、抗蚀剂、硅化镫、砷化镓、InP、镰铀、铀铀、铀铀、铀铵、硅晶、蓝宝石等。
表面处理：
DLC涂层、防锈剂、防雾剂等。
光学材料：
滤镜、AR涂层等。
FPD
液晶显示器（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有机膜、封装剂）等。
其他的则是
硬盘、磁带、建筑材料等。
