日本大塚电子Otsuka光谱厚度计

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日本大塚电子Otsuka光谱厚度计

日本大塚电子Otsuka光谱厚度计

产品说明:

利用光谱仪实现厚度计测量。

配备高精度FFT薄膜厚度分析引擎。

光纤使测量系统能够自由构建。

可以集成到各种制造设备中。

可以实时测量胶片厚度。

支持远程控制和多点测量。

采用长寿命、高稳定性的白色LED光源。

测量薄膜厚度。

单点式:

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多点式:

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横向式:

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