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产品说明：
采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，
提供多种支援 实现高精度测量（已获取专利） 实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样品。
产品特点：
采用线扫描方式检测整面薄膜
硬件&软件均为创新设计
作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援
实现高精度测量（已获取专利）
实现高速测量
不受偏差影响
可对应宽幅样品（TD方向最大可测量10m）。
