日本大塚电子Otsuka线扫描膜厚仪离线型

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日本大塚电子Otsuka线扫描膜厚仪离线型

日本大塚电子Otsuka线扫描膜厚仪离线型

产品说明:

全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商,

提供多种支援 实现高精度测量。

产品特点:

全面高速高精度进行薄膜等面内膜厚不均一性检测

硬件&软件均为创新设计

作为专业膜厚测定厂商,提供多种支援

实现高精度测量(已取得专利)

实现高速测量(500万点以上/分)。

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