日本大塚电子Otsuka涂层厚度测量系统GS-300

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日本大塚电子Otsuka涂层厚度测量系统GS-300

日本大塚电子Otsuka涂层厚度测量系统GS-300

产品说明:

Φ300mm EFEM单元,用于集成到备用端口

实现晶圆内嵌的布线图案的对齐

满足半导体工艺的高通量需求

与缺口对准函数兼容

小尺寸规格。

TSV嵌入式图样晶圆研磨后的硅厚度。

Φ300mm尺寸的晶圆厚度。

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