产品说明：
高精度控制光轴！ 3σ≦0.02°
用于低延迟测量。
可测从0nm开始的低（残留）相位差
光轴检出同时可高速测量相位差(Re.)（相当于世界最快速的0.1秒以下来处理）
无驱动部，重复再现性高
设置的测量项目少，测量简单
测量波长除了550nm以外，还有各种波长
Rth测量、全方位角测量（需要option的自动旋转倾斜治具
通过与拉伸试验机组合，可同时评价膜的偏光特性和光弾性
(本系统属特注。）
相位差（ρ[°], Re[nm]）
主轴方位角（θ[°]）
椭圆率（ε），方位角（γ）
三次元折射率（NxNyNz）
位相差膜、偏光膜、椭圆膜、视野角改善膜、各种功能性膜
树脂、玻璃等透明、非均质材料（玻璃有变形，歪曲等）
