产品说明：
可以瞬时测量绝对量子效率（绝对量子产率）。 它兼容粉末、溶液、固体（薄膜）和薄膜样品。
低光多通道光谱探测器大大减少了紫外区域的杂散光。
此外，使用集成半球形单元实现了明亮光学，重激发荧光校正利用这一优势实现高精度测量。
此外，它还支持温度依赖的量子效率测量以及紫外~近红外的宽波长范围。
产品特点：
绝对量子效率的瞬时测量（绝对量子产率）
可以消除重激发的荧光发射
明亮光学的半球形整体单元
迟钝的光多通道光谱探测器大幅减少紫外区域的杂散光
温度控制函数（50~300°C）使得量子效率（量子屈服率）的温度依赖测量成为可能
兼容紫外至近红外宽带（300~1600nm）规格。
测量项目：
量子效率测量
激发波长依赖测量。
发射谱测量
PL激发谱测量。
激发发射矩阵（EEM）测量。
